CDM yntegreare dikte- en oerflakdichtheidsmeter

Applikaasjes

Coatingproses: online deteksje fan lytse skaaimerken fan elektrode; mienskiplike lytse skaaimerken fan elektrode: fakânsjehonger (gjin lekkage fan stroomkollektor, lyts griis ferskil mei normaal coatinggebiet, mislearring fan CCD-identifikaasje), krassen, diktekontoer fan ferdunnend gebiet, AT9 diktedeteksje ensfh.

Stjoer e-post nei ús

Produktdetail

Produktlabels

Prinsipes fan mjitting

Prinsipes fan mjitting fan oerflakdichtheid

X/β-ray absorption metoade

Prinsipes fan diktemjitting

Korrelaasje en lasertriangulaasje

Technyske testkarakteristiken fan CDM

Senario 1: Der is in 2 mm brede fakânsje/tekoart op it oerflak fan 'e elektrode en ien râne is dikker (blauwe line lykas hjirûnder werjûn). As de strielflek 40 mm is, liket de ynfloed fan 'e mjitten orizjinele gegevensfoarm (oranje line lykas hjirûnder werjûn) dúdlik lytser.

Senario 2: profylgegevens fan dynamysk ferdunningsgebiet 0.1mm gegevensbreedte

Softwarefunksjes

Technyske parameters

Namme	Yndeksen
Skensnelheid	0-18m/min
Samplingfrekwinsje	Oerflaktedichtheid: 200 kHz; dikte: 50 kHz
Berik fan oerflakdichtheidsmjitting	Oerflaktedichtheid: 10~1000 g/m²; dikte: 0~3000 μm;
Mjittingswerhelling krektens	Oerflaktedichtheid: 16s yntegraal: ±2σ: ≤±wiere wearde * 0.2‰ of ±0.06g/m²; ±3σ:≤±wiere wearde * 0.25‰ of +0.08g/m²; 4s yntegraal: ±2σ: ≤±wiere wearde * 0.4‰ of ±0.12g/m²; ±3σ: ≤±wiere wearde * 0.6‰ of ±0.18g/m²;Dikte: 10 mm sône: ± 3σ: ≤ ± 0.3μm; 1 mm sône: ±3σ: ≤±0.5μm; 0.1 mm sône: ±3σ: ≤±0.8μm;
Korrelaasje R2	Oerflaktetichtens >99%; dikte >98%;
Laserplak	25*1400μm
Klasse fan strielingsbeskerming	GB 18871-2002 nasjonale feilichheidsnorm (strielingsfrijstelling)
Tsjinstlibben fan radioaktive boarne	β-striel: 10,7 jier (Kr85 healtiid); Röntgenstriel: > 5 jier
Reaksjetiid fan mjitting	Oerflaktedichtheid < 1ms; dikte < 0.1ms;
Algemiene krêft	<3kW